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紅外線(xiàn)測厚儀RX200
- 產(chǎn)品型號：RX200
- 更新時(shí)間：2024-03-19
- 產(chǎn)品介紹：RX-200 測量方法:紅外線(xiàn)反射吸收式 分光方式:旋轉過(guò)濾器方式(可以實(shí)際裝載6張) 測量距離:25mm(本體部下方面) 測量面積:5×8mm(橢圓) 尺寸?重量:230 (W)×134(D)×90(H),約4.5kg
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產(chǎn)品介紹
正反射P偏光型標準在線(xiàn)膜厚計!消除了引起誤差的表面反射,可以正確進(jìn)行測量。
如果把紅外線(xiàn)照射到被測物上,就會(huì )發(fā)生與膜厚相對應的特定波長(cháng)的紅外線(xiàn)吸收現象。從透過(guò)光或鏡面金屬板的正反射光來(lái)掌握吸收量,再按事先測得的吸光度與水分值的關(guān)系式,可以測量膜厚。
并且,采用本公司獨自的P偏光入射方式。消除因表面反射或內部多重反射引起的誤差,提供紅外線(xiàn)測厚儀的硬件。
- 節省空間（在線(xiàn)）
因為是小型傳感器頭，故不受放置空間約束。只需占用現有生產(chǎn)線(xiàn)上的狹小空間。 - 瞬間測量
無(wú)需任何前處理。且可實(shí)現非破壞、非接觸的瞬間測量。 - 廣泛的適應性
通過(guò)由zui大6波長(cháng)組成的濾光器,可以測量各種材質(zhì)的膜厚及水分。 - 出眾的測量精度
通過(guò)采用本公司獨自的P偏光方式,即使是幾μm以下的薄膜,也可得到穩定的測量結果。 - 擁有值得信賴(lài)的長(cháng)期穩定性
根據周?chē)h(huán)境和裝置的變動(dòng),采用3波長(cháng)測光方式確保長(cháng)期性的精度。
用途例
- LCD用光學(xué)薄膜測厚
- 聚合電池的隔離板測厚
- 彩色顯像管蔭罩的感光乳劑測厚
- 鋁箔上的乙烯涂層測厚
- 防霧加工薄膜的防霧劑涂層測厚
- 復合膜的粘合劑涂層測厚
- 收縮標簽的脫膠檢查等
- 鋼板上的有機附著(zhù)量測量
規格
| 項目 | 規格 | |
|---|---|---|
| 測量方法 | 紅外線(xiàn)反射吸收式 | |
| 分光方式 | 旋轉過(guò)濾器方式（可以實(shí)際安裝6張） | |
| 測量距離 | 25mm（從本體部下面） | |
| 測量面積 | 5×8mm（橢圓） | |
| 尺寸、重量、電源 | 傳感器頭 | 230（W）×134（D）×90（H）、約4.5kg（不含突起部） |
| 數據處理部 | 275（W）×300（D）×165（H）、約6.7kg（不含突起部） | |
| 中繼單元部 | 250（W）×140（D）×113（H）、約3kg（不含突起部） | |
| 外部輸出 | 從模擬0～10v 到4～20mA進(jìn)行選擇（出廠(chǎng)時(shí)設定） | |
| 環(huán)境溫度 | 0～40℃（沒(méi)有結露） | |
| 電源 | AC100V±10％ 50/60Hz | |
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