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產(chǎn)品詳細頁(yè)
美國AXOMETRICS偏光測量?jì)x
- 產(chǎn)品型號：AxoScan
- 更新時(shí)間：2024-03-21
- 產(chǎn)品介紹：美國AXOMETRICS偏光測量?jì)xAxoScan 是測量樣品偏振特性的系統。AxoScan可被偏振片、緩震膜和液晶顯示器制造商以及這些產(chǎn)品的用戶(hù)所采用。AxoScan 可以測量偏振特性（全穆勒矩陣），報告樣品的關(guān)鍵偏振參數（偏振片特性、緩釋片特性、去極化特性）
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產(chǎn)品介紹
美國AXOMETRICS偏光測量?jì)x
AxoScan 是測量樣品偏振特性的系統。AxoScan可被偏振片、緩震膜和液晶顯示器制造商以及這些產(chǎn)品的用戶(hù)所采用。AxoScan 可以測量偏振特性（全穆勒矩陣），報告樣品的關(guān)鍵偏振參數（偏振片特性、緩釋片特性、去極化特性）。測量在單個(gè)位置進(jìn)行，通常是直徑為 1.5 毫米或 3 毫米的光束。如果需要測量更小的特征，可考慮使用 AxoStep 成像偏振儀。與只測量特定偏振參數子集的 "部分 "或 "不完整 "偏振儀不同，AxoScan 和 AxoStep 可測量完整的穆勒矩陣。穆勒矩陣的 16 個(gè)元素包含了樣品可能的偏振特性。有易于使用的軟件可自動(dòng)將穆勒矩陣轉換為透射率、偏振片特性（衰減和偏振）、延遲和去極化等有意義的參數。Axometrics 還可為較多行業(yè)提供特定應用軟件。
美國AXOMETRICS偏光測量?jì)x
技術(shù)參數
| 型號 | MMSP-VIS |
| 波長(cháng)范圍 | 400-1000 nm |
| 探測器類(lèi)型 | 硅光電二極管 |
| 分辨率 | 約1320 x 1024 |
| 時(shí)間 | 約1~2.5秒/區域 |
| 探測器尺寸 | 7.87毫米（直徑） |
| 型號 | MMP-HSO |
| 波長(cháng)范圍 | 380-700 nm |
| 探測器類(lèi)型 | 光電倍增管 |
| 型號 | MMP-NIR |
| 波長(cháng)范圍 | 1250 - 1600 nm |
| 探測器類(lèi)型 | InGaAs 光電二極管 |